マイクロデバイス開発支援センターのご案内
マイクロデバイス開発支援センターでは、
『はじめてMEMSデバイスを開発したい。アイデアはあるが、MEMSデバイスの試作開発にお困りの方』
『高機能性薄膜の作製をしたい。アイデアはあるが、作製装置や作製方法にお困りの方』
・・・
そんな、みなさまへのお手伝いをいたします!
マイクロデバイス開発支援センターのパンフレットはこちらからダウンロード可能です。
マイクロデバイス開発支援センターへのご連絡は,地方独立行政法人大阪産業技術研究所の総合受付までお願いいたします。
・ 電 話 : 0725-51-2525 ( 総合受付 : 9:00~17:30 )
Topics
大阪大学大学院基礎工学研究科の冨士田誠之先生らとの共同研究の成果について大阪大学より
「6Gやその先の大容量通信に向けたブレイクスルー
ー「偏波」の制御で小型デバイスのテラヘルツ通信容量を倍に!―」
の内容で報道提供がありました。
当研究所 電子デバイス研究室の 村上修一 室長、山田義春 主任研究員、近藤裕佑 主任研究員、山根秀勝 研究員により、
高抵抗シリコン基板を使ったMEMS微細加工技術によりデバイス開発を行い、またデバイス性能のシリコン形状依存性を数値計算により明らかにしました。
ORIST 【報道提供】6Gやその先の大容量通信に向けたブレイクスルー
山根 秀勝 研究員が第4回 プラズモニック化学研究会 若手奨励賞を受賞しました。
受賞内容:ナノスケールにおけるプラズモンと分子・ナノ粒子の相互作用に関する理論的研究
村上修一 研究室長(電子デバイス研究室)が
応用物理学会関西支部より第15回関西支部貢献賞を授与されました。
受賞内容:MEMS技術による関西企業のセンサ開発支援と技術者育成
マイクロデバイス開発をサポートする装置群
マイクロデバイス開発をサポートする装置群の一部をご紹介いたします。
装置群を①成膜、②パターニング、③加工、④評価の4グループに
分類して表示しています。
装置の写真をクリックしていただくと、装置の概要が表示されます。
① 成膜
マグネトロンスパッタ装置 半導体デバイス製造用スパッタ装置
スパッタ装置 多機能真空蒸着装置
半導体熱処理装置 真空蒸着装置
② パターニング
フォトマスク作製装置 両面マスクアライナー マスクホルダー 基板ステージ
(マスクレス露光装置) 保有治具一覧↓ 保有治具一覧↓
クリーンルーム
③ 加工
高速シリコンディープエッチング RIE(イオンビームエッチング)
ICP-RIE ダイサー
超音波ボンダ
④ 評価
強誘電体特性評価装置 分光エリプソメーター
磁気特性測定装置 ガウスメーター
ホール効果測定システム 低透磁率計
スクラッチ試験機 半導体パラメータアナライザー
MEMS・高機能性薄膜作製技術を用いて作製したデバイス
企業支援成果の紹介
MEMS・高機能性薄膜作製技術を用いた企業支援成果をご紹介します!
写真をクリックしていただくと、内容が表示されます。
① 純金「干支メダル(亥)」 ② 低応力MEMS真空マウンターの開発
③ 導電性高分子を用いた温度センサ ④ 電力線から発電する磁界振動発電デバイスの開発
⑤ マイクロ流量センサの開発 ⑥フォトリソによる金属めっきパターン形成
⑦半導体ウエハ面内膜厚分布の評価 ⑧単結晶薄膜を接合したウェハによる圧電MEMSデバイスの開発
⑨当社独自めっきプライマー「メタロイド」による ⑩レーザーによるMEMS用ウェハ接合の技術開発
5G向け製品開発
⑪異物検査システム
リンク先の概要説明ファイルは地方独立行政法人大阪産業技術研究所発行の企業支援成果事例集から一部を抜粋。
装置使用
※必要に応じて使用料とは別途、1機器(設備)につき1単位(30分)分の 指導料(2,500円)を頂戴致しております。
※令和元年10月1日より、消費税率引き上げに伴い試験料金が改定されています。
機器番号 | 項目 | 単位 | 金額(円) |
---|---|---|---|
A3028 | イオンビームエッチング装置 | 半日 | 8,200 |
A3031 | 超音波ボンダー | 半日 | 3,200 |
A3032 | スパッタ装置 | 半日 | 13,900 |
A3171 | 半導体パラメータアナライザ | 半日 | 7,400 |
A3117 | 磁気特性測定装置 | 1日 | 32,500 |
A3131 | 電気抵抗測定システム | 1日 | 12,500 |
A3132 | 強磁場発生装置 | 1日 | 29,000 |
A3134 | 半導体熱処理・拡散・CVD炉 | 半日 | 34,200 |
A3138 | ウェハー切断機 | 1時間 | 2,100 |
A3140 | マイクロデバイス簡易計測機器一式 | 1時間 | 900 |
A3148 | ガウスメータ | 1日 | 1,500 |
A3152 | 高密度プラズマCVD装置 | 半日 | 14,200 |
A3159 | 小型電気炉 | 時間 | 1,600 |
A8307 | ホール効果測定システム | 半日 | 32,200 |
A8303 | 多機能真空蒸着装置 | 半日 | 9,500 |
A8306 | マスクレス露光装置 | 時間 | 8,100 |
A8305 | 触針式膜厚測定装置 | 時間 | 2,000 |
A9206 | 半導体デバイス製造用スパッタ装置 | 半日 | 17,800 |
A9220 | 薄膜用スクラッチ試験機 | 1時間 | 4,300 |
A9239 | 真空蒸着装置 | 半日 | 6,000 |
A9257 | 強誘電体特性評価装置 | 1時間 | 1,200 |
A9261 | クリーンルーム | 半日 | 2,000 |
A9293 | 高速シリコンディープエッチング装置 | 1時間 | 10,500 |
A9334 | 分光エリプソメーター | 1時間 | 6,800 |
A9338 | 低透磁率計 | 1時間 | 1,500 |
A9343 | ヘリウムリークディテクター | 半日 | 5,500 |
A9362 | マグネトロンスパッタ装置 | 1時間 | 9,900 |
E1006 | 電子ビーム蒸着装置 | 半日 | 6,000 |
E1015 | 高精細両面マスクアライナー | 1時間 | 6,800 |
依頼試験
試験コード | 試験名 | 単位 | 金額(円) |
---|---|---|---|
O305 | イオンビームエッチング | 1件 | 25,900 |
O325 | マグネトロンスパッタリング | 1件 | 25,200 |
O319 | スパッタリング(半導体デバイス製造用) | 1件 | 22,400 |
O303 | スパッタリング | 1件 | 19,200 |
O310 | 半導体熱処理(酸化・CVD) | 1件(2時間) 追加1時間毎 |
49,500 16,500 |
O409 | ウェハー等切断 | 1件 | 7,100 |
O312 | 高密度プラズマCVD | 1件 | 34,600 |
O323 | 真空蒸着 | 1件 | 15,000 |
O327 | フォトマスク作製 | 1枚(2時間) 追加1時間毎 |
27,400 13,300 |
O318 | マスク設計 | 1件(1時間) | 5,000 |
O324 | 高速シリコンディープエッチング | 1件 | 30,900 |
A354 | 分光エリプソメーター測定 | 1測定 | 9,200 |
A355 | 分光エリプソメーター特殊測定 | 1測定 A354に加算 |
3,100 |
O322 | 高精度フォトリソグラフ | 1件(2時間) 追加1時間毎 |
33,300 15,000 |
I336 | ホール効果測定(室温) | 1試料 | 16,300 |
I337 | I336の追加 | 1試料 | 9,700 |
I338 | ホール効果測定(温度可変) | 1試料 | 41,000 |
テクニカルシート
※テクニカルシートに記載の組織名称等の情報は発行当時のものです。
番号 | タイトル(PDF) |
---|---|
23-08 | 半導体パラメータアナライザ |
23-01 | 電子ビーム蒸着装置 |
22-27 | ヘリウムリークディテクタ― |
21-11 | 磁性薄膜の磁歪効果評価 |
21-08 | マグネトロンスパッタ装置-基板温度制御システムについて- |
21-04 | マグネトロンスパッタ装置 |
19-11 | 試料振動型磁力計(VSM)による磁性薄膜評価 |
19-04 | 分光エリプソメーターによる測定事例(Ⅱ)~光学異方性を有する試料の測定~ |
18-18 | シリコン深堀り(DRIE)装置を使ったMEMS微細加工 |
18-10 | 低透磁率計による非磁性ステンレス鋼の品質管理 |
18-05 | 分光エリプソメーターによる測定事例 |
16011 | 軟磁性体のB-H曲線測定 |
15016 | 高精度フォトリソグラフィとMEMS技術への応用 |
13013 | 薄膜スクラッチ試験機 |
03013 | 薄膜表面スキャンプロファイラー |
02005 | プラズマアシスト成膜装置とDLC薄膜作製 |
02001 | 反応性イオンエッチング(RIE)装置による微細加工 |
01018 | 半導体熱処理装置(酸化、CVD)を用いたシリコンウェハー状への薄膜形成 |
テクノレポート
番号 | タイトル(PDF) |
---|---|
2024-05 | 光誘起力顕微鏡による局所的な円偏光場のマッピング |
2024-10-1 | シリコン微細加工によるテラヘルツ伝送路 |
2024-10-2 | 赤外線波長域のオールカーボン光学多層膜の簡便な作製法の確立 |
2023-15 | フィルム上で動作するフレキシブルな超音波センサアレイを実現 |
2022-12 | 空中超音波センサの高密度化と高周波化(1MHz)を実現 |
2021-19 | スパッタ法による強磁性半導体薄膜の開発 |
2020-10-2 | 振動を電気エネルギーに変換する圧電MEMS振動発電素子 |
2020-10-1 | 400℃まで動作可能な直圧式圧力センサの開発 |
2019-16-2 | 低コスト・塗布型電子デバイスへの応用に向けた電着高分子絶縁膜 |
2019-16-1 | フレキシブル基板上に作製できる透明酸化物薄膜トランジスタ |
2017-09 | 空中超音波センサの小型アレイ化、高感度化に成功 |
2017-08 | 高電界効果移動度を有する透明酸化物薄膜トランジスタ |