地方独立行政法人大阪産業技術研究所 - 当法人は、(地独)大阪府立産業技術総合研究所と(地独)大阪市立工業研究所が統合し、平成29年4月1日にスタートしました。研究開発から製造まで、企業の開発ステージに応じた支援を一気通貫で提供し、大阪産業の更なる飛躍に向け、大阪発のイノベーションを創出します。

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電気試験項目詳細

I103:電源入力試験
電気機器に規定電源を接続した時に流れる電流や電圧、電力などを測定します。

104:温度上昇試験
熱電温度計を用いて、各種条件下での温度上昇値を測定します。

I107:保護接地回路抵抗測定
保護接地回路の接地抵抗を測定します。

I115:波形測定
オシロスコープやアナライジングレコーダを用いて電圧や電流の波形を記録します。

I116:周波数・時間測定
機器に流れる電流や電圧の繰返し周波数、もしくはその周期を測定します。

I117:耐電圧・絶縁抵抗試験
絶縁体や電気機器の絶縁抵抗、及び規定時間内での耐電圧特性を試験します。
使用機器:KIKUSUI TOS5302

I201:部品インピーダンス測定
電気部品の抵抗値、静電容量、インダクタンス、インピーダンス等を測定します。

I301:固体絶縁材料の抵抗率測定
絶縁材料に規定電圧を印加したときに流れる微小電流を測定し、材料の体積抵抗率を算出します。

試料サイズ:100mmΦ以上

I302:金属材料の抵抗率測定
金属材料に規定電圧を印加したときに流れる電流を測定し、材料の体積抵抗率を算出します。

I304:固体絶縁材料の誘電特性測定
誘電材料に規定周波数の電源を印加し、材料の誘電損失や比誘電率を算出します。

試料サイズ:40mmΦ×0.5mm以上

I305:固体絶縁材料の絶縁破壊強さ
供試品に印加する電圧を一定速度で上昇させ、絶縁破壊が生じたときの破壊電圧、又は破壊強さを測定します。

電圧上昇速度 0.5k~6kV/s
機器概観


I306:固体絶縁材料の絶縁破壊強さ(段階的電圧上昇法)
供試品に印加する電圧を段階的に上昇させ、絶縁破壊が生じなかった最大の印加電圧、又はその時の電界強度を測定します。

電圧上昇速度 0.5k~6kV/s
機器概観


ご案内

電気・電子製品の役割は我々の生活にとって、必要不可欠なものです。
そのため各種製品の性能だけでなく、予期せぬ外力に対する安全性や耐久性といった信頼性を高めることも必要不可欠であると言えます。
そこで、当グループでは、各種製品の電気・環境的信頼性に関する試験、及び照明器具の測光試験を行っております。

※環境試験を実施する場合、夜間・休日には試料への通電はできません

 

依頼試験

◇下記に当グループが担当している依頼試験を記載しております。
 試験内容や試験条件、試料条件の詳細等につきまして、担当者とご相談ください。

◆試験項目一覧(令和元年101日更新)

電気試験
試験
コード
項目 試験料
上段:1測定(試験)料金
下段:加算額
I103 電源入力試験 5,900円
I107 保護接地回路抵抗測定 4,800円
I108 雷インパルス耐電圧試験 7,500円
530円(1放電毎)
I109 部分放電量測定 4,700円
I117 耐電圧・絶縁抵抗試験 5,200円
680円(1試験毎)
I201 部品インピーダンス測定 4,800円
700円(1試験毎)
I301 固体絶縁材料の抵抗率測定 4,600円
I302 金属材料の抵抗率測定 4,600円
I304 固体絶縁材料の誘電特性測定 4,800円
550円(1周波数毎)
I305 固体絶縁材料の絶縁破壊の強さ 5,100円
I306 固体絶縁材料の絶縁破壊の強さ
(段階的電圧上昇法)
7,400円

   

測光試験
試験
コード
項目 試験料(円)
I401 全光束測定 10,400円
I402 分光・測色(全光束測定) 830円
※試験I401に加算
I403 温度測定(全光束測定) 2,200円
※試験I401に加算
I404 全光束測定(配光) 17,600円
2,700円(36方向増す毎)
I405 配光特性測定 16,500円
1,200円(1チャート増す毎)
I406 分光・測色(配光特性) 3,500円
1,200円(1項目増す毎)
※試験I404もしくはI405に加算
I407 光度・照度分布(配光) 1,200円
1,200円(1チャート増す毎)
※試験I404もしくはI405に加算

 

令和元年101日更新

装置使用

◇下記に当グループ管理の、使用開放している機器を記載しております。
 使用可能範囲や各種条件等につきましては、担当職員とご相談ください。
 ※使用料とは別途、1機器(設備)につき1単位(30分)分の指導料(2,500円)を頂戴致しております。

◆機器項目一覧

電気試験
機器
コード
項目 使用料
A2051 データロガ 930円/半日
A2054 超高抵抗計 870円/半日
A2055 低周波インピーダンスアナライザ 1,800円/半日
A2059 部分放電自動測定装置 4,700円/半日
A2076 電源入力測定器 1,100円/半日
A8213 小型交流可変周波電源 300円/時間
A8215 デジタルオシロスコープ(2ch) 320円/時間
A8216 デジタルマルチメーター 390円/時間
A8217 実効値交流電圧計 350円/時間
A9212 交流低抵抗計 310円/時間
A9215 小型簡易暗室 270円/時間
A9223 直流抵抗計 330円/時間
A9244 耐電圧・絶縁抵抗試験器 490円/時間
A9274 交流高圧発生装置 2,300円/時間
A9351 部分放電自動測定装置(小型) 4,400円/半日

技術資料

◇当グループからのセミナーやポスター等の発表資料を掲載します。
◇資料内の組織名称等の情報は発行当時のものです。。

◆テクニカルシート

番号 表題(PDFファイルにリンクしています。) 日付
19-12 分光放射照度計を用いた測定例紹介 2020/01
12013 電気製品の環境試験における温度応答特性 2013/02
12003 大型積分球測定装置 2012/04
09019 温度変化試験(温度急変)のための冷熱衝撃試験装置 2010/03
99028 絶縁試験方法の検討(2)誘電測定と電極の影響 1999/12
98059 絶縁試験方法の検討(1)フラッシオーバ電圧に及ぼす電圧上昇速度の影響 1999/03


◆ポスター発表

番号 表題(PDFファイルにリンクしています。) 日付
C-19 絶縁材料の評価方法の検討 -絶縁破壊強さの試験条件について- 2007/11

研究開発(応用光学)

委託による高度受託研究や、共同実施を行う企業共同研究、競争的外部資金による研究をはじめとする、各種研究開発を行っております。これまでに実施しました(実施中も含む)研究開発例をご紹介します。

キーワード:立体ディスプレイ、ホログラフィ、形状計測、計測光学、画像光学、計算光学、回折計算、フーリエ変換、分光測色

超広視域ホログラフィック3次元ディスプレイ
地球の北半球の再生例※1
最も自然で理想的な立体表示技術として、ホログラフィック3Dディスプレイが注目されています。 ただ、ホログラムを表示するデバイスの性能(解像度やサイズ)が不十分であるため、立体像が観測可能な範囲(視域)が狭いという課題があります。 視域が狭ければ、両眼視差や運動視差をほとんど感じることができないため、「立体再生でありながら立体的に感じられない」という、 一見矛盾した状態が生じております。そこで弊所では、視域を拡大する手法に取り組んでおります。

具体的には、高速応答可能な空間光変調器を用いた時空間分割多重方式により、水平方向の視域を拡大しました※1。 ミラーを高速に回転し、その回転角に応じたホログラムを表示することで、360°どこからでも立体像が観測可能です。

他にも、凸型放物面鏡の反射特性を活用した、全方向観測可能なシステムも提案しております※2。水平方向だけでなく、垂直方向にも広い視域が得られるのが特徴です。

※1:Y. Sando, D. Barada, and T. Yatagai, Appl. Opt. 57, pp. 7622-7626 (2018).

※2:Y. Sando, K. Satoh, T. Kitagawa, M. Kawamura, D. Barada, and T. Yatagai, Sci. Rep. 8, 11333 (2018).

レーザー自動水準器の性能向上
試作した2号機の概観※1
鉛直点を指示する計器として糸に錘を取り付けた下げ振りが、現場では使用されています。しかし、錘が静止するのを待つ必要がある、取り付けに時間がかかる、風の影響を強く受けるなどの観点から、 レーザー自動水準器の需要も高まっております。

弊所では、レーザー自動水準器の性能向上を目指し、各種開発を共同で行っております※1

※1:平成29年度公募型共同開発事業

回折光学素子の設計・作製・性能評価

作製した微細光学素子の写真。
(a):回折格子、(b):像再生
微細光学素子は光を自由に制御することができるため、機能的デバイスの実現に必要不可欠です。また、光はサブµ mオーダーの波長を有するため、 様々な高精度計測にも広く活用されており、光学素子の果たす役割は年々大きくなってきています。

しかし、複雑な機能を実現するためには設計も複雑になり、また、試作・検証が重要なのは言うまでもありません。 弊所では、微細な回折光学素子の設計・作製・検証を一貫して実施することができます。
その他
・縞投影による物体の立体形状計測装置の開発
・面発光デバイスの輝度分布の評価と対策

メンバー

主任研究員 平井 学(博士(理学))
主任研究員 山東 悠介(博士(工学))
主任研究員 岩田 晋弥(博士(工学))

インフォメーション

依頼試験、技術相談、相談内容で担当部署がわからない場合など、下記相談窓口へお尋ねください。

本部・和泉センター

(技術相談・総合受付)
0725-51-2525

9:00~12:15/13:00~17:30
(土日祝・年末年始を除く)