電気試験項目詳細
ご案内
電気・電子製品の役割は我々の生活にとって、必要不可欠なものです。
そのため各種製品の性能だけでなく、予期せぬ外力に対する安全性や耐久性といった信頼性を高めることも必要不可欠であると言えます。
そこで、当グループでは、各種製品の電気・環境的信頼性に関する試験、及び照明器具の測光試験を行っております。
※環境試験を実施する場合、夜間・休日には試料への通電はできません
依頼試験
◇下記に当グループが担当している依頼試験を記載しております。
試験内容や試験条件、試料条件の詳細等につきまして、担当者とご相談ください。
◆試験項目一覧(令和元年10月1日更新)
電気試験 | ||
試験 コード |
項目 | 試験料 上段:1測定(試験)料金 下段:加算額 |
I103 | 電源入力試験 | 5,900円 |
I107 | 保護接地回路抵抗測定 | 4,800円 |
I108 | 雷インパルス耐電圧試験 | 7,500円 530円(1放電毎) |
I109 | 部分放電量測定 | 4,700円 |
I117 | 耐電圧・絶縁抵抗試験 | 5,200円 680円(1試験毎) |
I201 | 部品インピーダンス測定 | 4,800円 700円(1試験毎) |
I301 | 固体絶縁材料の抵抗率測定 | 4,600円 |
I302 | 金属材料の抵抗率測定 | 4,600円 |
I304 | 固体絶縁材料の誘電特性測定 | 4,800円 550円(1周波数毎) |
I305 | 固体絶縁材料の絶縁破壊の強さ | 5,100円 |
I306 | 固体絶縁材料の絶縁破壊の強さ (段階的電圧上昇法) |
7,400円 |
測光試験 | ||
試験 コード |
項目 | 試験料(円) |
I401 | 全光束測定 | 10,400円 |
I402 | 分光・測色(全光束測定) | 830円 ※試験I401に加算 |
I403 | 温度測定(全光束測定) | 2,200円 ※試験I401に加算 |
I404 | 全光束測定(配光) | 17,600円 2,700円(36方向増す毎) |
I405 | 配光特性測定 | 16,500円 1,200円(1チャート増す毎) |
I406 | 分光・測色(配光特性) | 3,500円 1,200円(1項目増す毎) ※試験I404もしくはI405に加算 |
I407 | 光度・照度分布(配光) | 1,200円 1,200円(1チャート増す毎) ※試験I404もしくはI405に加算 |
令和元年10月1日更新
装置使用
◇下記に当グループ管理の、使用開放している機器を記載しております。
使用可能範囲や各種条件等につきましては、担当職員とご相談ください。
※使用料とは別途、1機器(設備)につき1単位(30分)分の指導料(2,500円)を頂戴致しております。
電気試験 | ||
機器 コード |
項目 | 使用料 |
A2051 | データロガ | 930円/半日 |
A2054 | 超高抵抗計 | 870円/半日 |
A2055 | 低周波インピーダンスアナライザ | 1,800円/半日 |
A2059 | 部分放電自動測定装置 | 4,700円/半日 |
A2076 | 電源入力測定器 | 1,100円/半日 |
A8213 | 小型交流可変周波電源 | 300円/時間 |
A8215 | デジタルオシロスコープ(2ch) | 320円/時間 |
A8216 | デジタルマルチメーター | 390円/時間 |
A8217 | 実効値交流電圧計 | 350円/時間 |
A9212 | 交流低抵抗計 | 310円/時間 |
A9215 | 小型簡易暗室 | 270円/時間 |
A9223 | 直流抵抗計 | 330円/時間 |
A9244 | 耐電圧・絶縁抵抗試験器 | 490円/時間 |
A9274 | 交流高圧発生装置 | 2,300円/時間 |
A9351 | 部分放電自動測定装置(小型) | 4,400円/半日 |
技術資料
◇当グループからのセミナーやポスター等の発表資料を掲載します。
◇資料内の組織名称等の情報は発行当時のものです。。
◆テクニカルシート
番号 | 表題(PDFファイルにリンクしています。) | 日付 |
19-12 | 分光放射照度計を用いた測定例紹介 | 2020/01 |
12013 | 電気製品の環境試験における温度応答特性 | 2013/02 |
12003 | 大型積分球測定装置 | 2012/04 |
09019 | 温度変化試験(温度急変)のための冷熱衝撃試験装置 | 2010/03 |
99028 | 絶縁試験方法の検討(2)誘電測定と電極の影響 | 1999/12 |
98059 | 絶縁試験方法の検討(1)フラッシオーバ電圧に及ぼす電圧上昇速度の影響 | 1999/03 |
◆ポスター発表
番号 | 表題(PDFファイルにリンクしています。) | 日付 |
C-19 | 絶縁材料の評価方法の検討 -絶縁破壊強さの試験条件について- | 2007/11 |
研究開発(応用光学)
委託による高度受託研究や、共同実施を行う企業共同研究、競争的外部資金による研究をはじめとする、各種研究開発を行っております。これまでに実施しました(実施中も含む)研究開発例をご紹介します。
キーワード:立体ディスプレイ、ホログラフィ、形状計測、計測光学、画像光学、計算光学、回折計算、フーリエ変換、分光測色
超広視域ホログラフィック3次元ディスプレイ
具体的には、高速応答可能な空間光変調器を用いた時空間分割多重方式により、水平方向の視域を拡大しました※1。 ミラーを高速に回転し、その回転角に応じたホログラムを表示することで、360°どこからでも立体像が観測可能です。
他にも、凸型放物面鏡の反射特性を活用した、全方向観測可能なシステムも提案しております※2。水平方向だけでなく、垂直方向にも広い視域が得られるのが特徴です。
※1:Y. Sando, D. Barada, and T. Yatagai, Appl. Opt. 57, pp. 7622-7626 (2018).
※2:Y. Sando, K. Satoh, T. Kitagawa, M. Kawamura, D. Barada, and T. Yatagai, Sci. Rep. 8, 11333 (2018).
レーザー自動水準器の性能向上
弊所では、レーザー自動水準器の性能向上を目指し、各種開発を共同で行っております※1。
※1:平成29年度公募型共同開発事業
回折光学素子の設計・作製・性能評価
作製した微細光学素子の写真。
(a):回折格子、(b):像再生
しかし、複雑な機能を実現するためには設計も複雑になり、また、試作・検証が重要なのは言うまでもありません。 弊所では、微細な回折光学素子の設計・作製・検証を一貫して実施することができます。
その他
・縞投影による物体の立体形状計測装置の開発・面発光デバイスの輝度分布の評価と対策
メンバー
主任研究員 | 平井 学(博士(理学)) |
主任研究員 | 山東 悠介(博士(工学)) |
主任研究員 | 岩田 晋弥(博士(工学)) |
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