X線光電子分光(XPS)による表面分析

レディメード研修（第5回）

X線光電子分光(XPS)による表面分析

－ポリマーを題材に測定原理から実習，データ解析まで－

大変申し訳ございませんが、定員に達しましたので受付を終了しました。

　X線光電子分光(XPS)測定では，試料の最表面近傍の元素分析やその元素の化学状態分析が可能です。めっきや電池材料，半導体，触媒など幅広い分野で有用であり，特にポリマーの表面分析は劣化解析や異種材料接着への表面改質評価において重要な分析技術です。しかし，超高真空下で極最表面近傍の測定をおこなうため，試料の取り扱いや，測定時の絶縁体への帯電の影響など，さまざまな注意を払う必要があります。
　本研修では，前半に講義形式でXPS測定の原理と基礎を説明し，後半はポリマーを中心に測定の実習をおこないます。測定や解析に関する注意点を紹介しながら，XPS測定の全体像をつかんでいただくことを目的とします。

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プログラム

• １．講義: X線光電子分光(XPS)の原理と基礎

  (13:30～14:45)

• ２．実習: XPSを用いたポリマーの表面分析

  (15:00～17:15)

  （地独）大阪産業技術研究所森之宮センター　　電子材料研究部　中谷真大、千金正也

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