受賞者 | 渡辺 義人 |
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授与者 | 産業技術連携推進会議 知的基盤部会長 独立行政法人産業技術総合研究所 計測標準研究部門長 千葉 光一氏 知的基盤部会 分析分科会長 愛媛県産業技術研究所 所長 鈴木 貴明 氏 |
受賞日 | 平成25年12月5日 |
受賞対象テーマ | 粒度分布測定(分析方法:レーザー回折・散乱式) |
産業技術連携推進会議 知的基盤部会 分析分科会で実施された第56回分析技術共同研究に参加し、ポリエチレンラテックス粒子の粒度分布をレーザー回折散乱式粒度分布測定装置により測定した。各参加者に対する試料別、測定法別のzスコアが算出され、絶対値が2.0以下であった。