| 受賞者 | 陶山 剛 |
|---|---|
| 授与者 | 産業技術連携推進会議 知的基盤部会分析分科会 |
| 受賞日 | 令和5年11月30日 |
| 受賞対象テーマ | 第66回分析技術共同研究 ナノ粒子の粒径【◎分析試料：カーボンブラック（A,B）◎分析方法：動的光散乱、レーザー回折・散乱、走査電子顕微鏡】 |
| 第66回分析技術共同研究ナノ粒子の粒径11において、分析試料の平均径を報告した。分析結果の比較検討により、中央値から±2標準偏差以下のものが合格分析値と認定される。授賞者は分析試料：カーボンブラック（A,B）に対して3種の測定原理の値を報告し、3種で認定証を受賞した。 |
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