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ホーム > 広報・研究成果 > 職員受賞・学位取得 > 第66回分析技術共同研究　認定証(3)

第66回分析技術共同研究　認定証

　　　　　　

受賞者	陶山剛
授与者	産業技術連携推進会議　知的基盤部会分析分科会
受賞日	令和5年11月30日
受賞対象テーマ	第66回分析技術共同研究　ナノ粒子の粒径【◎分析試料：カーボンブラック（A,B）◎分析方法：動的光散乱、レーザー回折・散乱、走査電子顕微鏡】

概要

第66回分析技術共同研究ナノ粒子の粒径11において、分析試料の平均径を報告した。分析結果の比較検討により、中央値から±2標準偏差以下のものが合格分析値と認定される。授賞者は分析試料：カーボンブラック（A,B）に対して3種の測定原理の値を報告し、3種で認定証を受賞した。

　　　　　　

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