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電子材料研究部
電子情報技術の基幹をなす材料の開発を行い、関連業界に対する技術支援を行っています。無機電子材料、有機電子材料、有機無機ハイブリッド材料、金属・合金・酸化物の薄膜・厚膜など広範囲の材料を対象とし、ナノテクノロジー、原子・分子レベルのプロセス制御技術による材料特性の飛躍的向上を目指した電子材料の開発を進めています。（電子材料研究部長 ： 渡瀬 星児）
セラミックス研究室
セラミックスは金属、プラスチックと並ぶ3大材料の1つであり、幅広い産業分野で利用されています。熱電変換材料、無機半導体、熱膨張制御材料などの機能性セラミックスの開発や企業からの依頼試験分析、受託研究を実施し、セラミックス業界のニーズにお応えしていきます。
表面工学研究室
ウェットプロセスによる無機材料（金属・酸化物）やバイオ材料の薄膜形成・ナノ構造体の形成、ドライプロセスによる高分子材料の表面改質技術に関する研究を行っています。エレクトロニクス実装やエネルギー関連デバイスを中心に、次世代プリント配線板、太陽電池、発光材料など、広く表面に関わる技術開発に取り組んでいます。
電池材料研究室
低炭素社会実現に向け、キーデバイスとして蓄電池の高安全性や高性能化が求められています。当研究室では高い安全性が期待できる全固体電池を高性能化するための材料・プロセス開発を支援しています。メカニカルミリング法、湿式法、ホットプレス等を駆使し、界面接合を容易にする柔軟な硫化物・酸化物・ハロゲン化物固体電解質や全固体電池に適した正負極活物質の開発を行っています。
ハイブリッド材料研究室
有機と無機の特徴を持つ有機無機ハイブリッドは、光学・電子材料をはじめとする様々な分野で利用されています。ゾルゲル反応、光化学反応、電気化学反応、相分離などの省資源・省エネルギー・低環境負荷型プロセス（グリーンプロセス）を活用して、高分子材料、金属錯体、ナノ粒子、金属酸化物を用いたハイブリッド材料の創製とその周辺技術の開発を行っています。
主な試験・分析項目
表面分析・観察
X線光電子分光分析（ESCA）、走査型電子顕微鏡観察（SEM-EDX）、走査型プローブ顕微鏡観察（SPM）、レーザー顕微鏡観察、ATR-フーリエ変換赤外分光分析（ATR-FT-IR）、表面粗さ
材料分析
X線回折、蛍光X線分析、単結晶Ｘ線構造解析、紫外可視分光分析（UV-VIS）、蛍光分光分析、FT-IR、熱分解GC-MS、多核NMR
物性測定
電気抵抗、ホール定数、ゼーベック係数、熱電変換効率、光線透過率、反射率、熱拡散率、屈折率、熱膨張係数、熱分析（TG-DTA、DSC）、誘電率（1 MHz～170 GHz）、誘電正接（1～170 GHz）、仕事関数（光電子収量分光法、ケルビンプローブ法）
その他
めっき：キャス試験
ガラス：ガラスの強度試験、耐熱衝撃試験、水圧試験
高分子：高分子の分子量および分布（GPC）
主な機器・装置
形態観察
走査型電子顕微鏡（SEM）、電界放出型走査型電子顕微鏡（FE-SEM）、透過型電子顕微鏡（TEM）、原子間力顕微鏡（AFM）、光学顕微鏡、レーザー顕微鏡、触針式微細表面形状測定装置
構造解析
X線回折装置（XRD）、単結晶X線構造解析装置（CXRD）、顕微ラマン分光光度計、紫外可視近赤外分光分析装置（UV-VIS-NIR）、蛍光分光光度計、フーリエ変換赤外分光分析装置（FT-IR）、マルチチャンネル分光器、核磁気共鳴分光分析装置（NMR）
組成分析
Ｘ線光電子分光分析装置（ESCA、XPS）、波長分散型蛍光X線分析装置（XRF）、エネルギー分散型蛍光X線装置（XRF）、グロー放電発光分析装置（GD-OES）
クロマトグラフ
熱分解ガスクロマトグラフ質量分析装置（GC-MS）、ゲル浸透クロマトグラフィ（GPC）
物性測定・特性評価
ゼーベック係数測定装置、熱電効率測定装置、ホール定数測定装置、熱機械分析装置（TMA）、ソーラーシミュレータ、キャス試験機、微小部鏡面反射測定装置、レーザーフラッシュ法熱定数測定装置、アッベ屈折計、ガウスメーター、誘電特性評価システム（ミリ波ベクトルネットワークアナライザ 1～170 GHz、スプリットポスト共振器、スプリットシリンダ共振器、ファブリペロ共振器、フリースペース用治具）、仕事関数測定システム、半導体特性評価装置
その他
パルス通電加圧焼結装置、ファイバーレーザ、超高速昇温電気炉、真空雰囲気焼成炉、ドクターブレード装置、ボールミル、スピンコータ、バーコーター、紫外線露光装置、真空蒸着装置、スパッタリング装置、マイクロ波反応装置
電子材料研究部
森之宮センター
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