採用情報
アクセス
お問い合せ
（和泉センター）JKA補助事業 導入機器
以下の機器は、公益財団法人JKA（旧・日本自転車振興会、旧・日本小型自動車振興会）の「公設工業試験研究所等における機械設備拡充補助事業」により導入されました。
※平成28年度以前の補助事業による導入装置は、旧・大阪府立産業技術総合研究所時代に導入されたものです。
| 補助事業 | 整備機器 |
|---|---|
| ２０２３年度JKA補助事業 | 金属3Dレーザ積層造形装置 |
| ホール効果測定システム | |
| ２０２１年度JKA補助事業 | リモート対応型ショットキー走査電子顕微鏡 |
| 材料組織評価装置 | |
| ２０１９年度JKA補助事業 | マグネトロンスパッタ装置 |
| 平成２９年度競輪補助事業 | 分光エリプソメーター |
| 平成２８年度競輪補助事業 | ナノインデンター |
| 平成２７年度競輪補助事業 | 高速シリコンディープエッチング装置 |
| 平成２６年度競輪補助事業 | 大型貨物用振動試験機 |
| 平成２５年度競輪補助事業 | 液体クロマトグラフ質量分析システム |
| 平成２４年度競輪補助事業 | 電子線三次元表面形態解析装置 |
| 平成２３年度競輪補助事業 | 複合サイクル試験機 |
| 高照度キセノン耐候性試験装置 | |
| メタルハライドランプ式耐候性試験装置 | |
| 分光測色計 | |
| 雷サージ試験システム | |
| 平成２２年度競輪補助事業 | X線応力測定装置 |
| 平成２１年度競輪補助事業 | 光電測光式発光分析装置（鋼鉄用、非鉄用） |
| 平成２０年度競輪補助事業 | 顕微ラマン分光光度計 |
| 平成１９年度競輪補助事業 | 元素分析付高分解能電界放出型走査電子顕微鏡 |
| 平成１８年度競輪補助事業 | ACサーボ順送プレスシステム |
| 平成１７年度オートレース補助事業 | ICP－質量分析システム |
| 平成１６年度オートレース補助事業 | 包装貨物用振動試験機 |
| 平成１５年度オートレース補助事業 | マイクロ波デバイス測定システム |
| 平成１４年度オートレース補助事業 | 三次元形状測定装置 |
金属3Dレーザ積層造形装置
 |
||||||||||||||
|
本装置は、粉末床溶融結合方式（Powder Bed Fusion）の金属3Dプリンタです。本装置は1kW級の高出力レーザを搭載しているため、造形速度の高速化により生産性が大幅に向上しており、造形可能な材料の種類も豊富です。また、パルス照射機能により従来装置では難しかった0.1mm程度の薄肉造形が可能です。さらに、内蔵カメラによるモニタリング機能を有しており、製品製造時の課題である造形物の品質管理に用いることができます。
|
||||||||||||||
|
※公益財団法人JKA2023年度公設試験研究所等における機械設備拡充事業により導入。 |
ホール効果測定システム
 |
||||||||||||||||||
|
本システムは１台で、電気特性の一つである導電性に対する評価に対して、比抵抗測定範囲が16桁以上(5×10-8 Ω・cm～1×108 Ω・cm：試料の膜厚が１μmの場合)と非常に幅広く、かつ測定温度も10 K～ 1073 K (-263 ℃ ～ 800 ℃)まで任意に制御可能です。さらに、従来の測定システムと比較してより高感度な測定を簡便に行えるため、効率的に利用することができます。
|
||||||||||||||||||
|
※公益財団法人JKA2023年度公設試験研究所等における機械設備拡充事業により導入。 |
| リモート対応型ショットキー走査電子顕微鏡 | ||||||||||||||||
 |
||||||||||||||||
本装置は、像観察や組織解析の分解能や操作性に優れた電子顕微鏡です。本装置は、大電流を安定して照射することができるため分析器等の装備にも適し、それによりサブミクロンオーダーでの高度な材料解析が可能です。また、大型の試料や非導電性試料もそのまま観察することができます。さらに、本装置はリモート機能を有しており、遠隔地から容易に操作することが可能で、会社に居ながらにして、効率的に利用することができます。
|
||||||||||||||||
| ※公益財団法人JKA2021年度公設試験研究所等における機械設備拡充事業により導入。 JKA補助事業の自己評価： 総合評価４ 全体として比較的高いレベルの事業であった。 |
| 材料組織評価装置 | ||||||||||||||||||||||||
 |
||||||||||||||||||||||||
|
本装置は、元素分析用検出器と結晶方位解析用検出器から構成される装置で、それらを同期させた高度な材料組織解析に加え、それぞれを独立して使用した材料評価も可能です。元素分析用検出器では、定性分析、ライン分析、マッピング等を行うことができ、一方、結晶方位解析用検出器では、従来よりも著しく高速で方位データを収集することができます。また、本装置は、試料を加熱しながら元素分析や結晶方位解析することも可能です。
|
||||||||||||||||||||||||
| ※公益財団法人JKA2021年度公設試験研究所等における機械設備拡充事業により導入。 JKA補助事業の自己評価： 総合評価４ 全体として比較的高いレベルの事業であった。 |
| マグネトロンスパッタ装置 | ||||||||||||||||||||
 |
||||||||||||||||||||
| マグネトロンスパッタ装置は、真空槽内で、プラズマとターゲットと呼ばれる固体材料を用いて、基板上に薄膜を作製する装置です。作製した薄膜は、IoTに用いられる小型センサなど、各種電子デバイスに欠かせないものです。 また、本装置は、ロードロック機能、自動運転製膜機能、製膜自動ログ機能等を具備しており、製膜作業の効率や実験条件の再現性が高いため、大変利便性の高い装置となっております。
|
||||||||||||||||||||
| ※公益財団法人JKA2019年度公設試験研究所等における機械設備拡充事業により導入。 JKA補助事業の自己評価： 総合評価４ 全体として比較的高いレベルの事業であった。 |
||||||||||||||||||||
| 分光エリプソメーター | ||||||||||||||||||||
 |
||||||||||||||||||||
| 分光エリプソメーターは、材料の屈折率や消衰係数、薄膜の膜厚を非破壊で精度良く測定することができる装置です。また、近年解析技術の向上により、屈折率や膜厚だけではなく、材料物性に関する様々な情報を得ることができます。 太陽電池、光学多層膜、光学レンズ材料、有機エレクトロニクス、電子デバイス等の分野で新規材料の開発や品質の確認、光学設計等に対して分光エリプソメーターは強力なツールとなります。当該装置を用いることにより、企業が求めるものづくりを支援することが可能となります。
|
||||||||||||||||||||
| ※公益財団法人JKA平成29年度公設試験研究所等における機械設備拡充事業により導入。 JKA補助事業の自己評価： 総合評価４ 全体として比較的高いレベルの事業であった。 |
||||||||||||||||||||
| ナノインデンター | |||||||||||||||||||||
 |
|||||||||||||||||||||
| ナノスケールレベルでの高度な表面計測、評価、解析が可能であり、材料表面の機械的物性を総合的に評価できる最新の高機能型装置です。 金型、機械、家電等における表面機能性製品の研究開発や品質管理にとって、最新の表面物性評価が可能な体制を整備でき、技術競争力を高めることができます。 また、本装置に現保有技術を組み合わせたメニューを提供することで、ものづくり企業が求める表面機能性に関する技術開発を積極的に支援することが可能となります。
|
|||||||||||||||||||||
| ※公益財団法人JKA平成28年度公設試験研究所等における機械設備拡充事業により導入。 JKA補助事業の自己評価： 総合評価４ 全体として比較的高いレベルの事業であった。 |
|||||||||||||||||||||
| 高速シリコンディープエッチング装置 | |||||||||||||||||||||
 |
|||||||||||||||||||||
| 高速シリコンディープエッチング装置は、高速にシリコン基盤を垂直に深く加工することにより、高い自由度を持つ形状を有するシリコン立体構造体の作製が可能になる装置です。 情報、自動車、精密機器等多くの分野で活用される小型のセンサーや電子デバイスの新規開発において、この装置を含むMEMS（Micro Electro Mechanical Systems)加工プロセスおよび研究所の持つ多くのノウハウにより中小企業の開発支援を行います。
|
|||||||||||||||||||||
| ※公益財団法人JKA平成27年度公設工業試験研究所等における機械設備拡充事業により導入。 JKA補助事業の自己評価： 総合評価４ 全体として比較的高いレベルの事業であった。 |
|||||||||||||||||||||
| 大型貨物用振動試験機 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
 |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 大型重量物を加振でき、サイン波、ランダム波、実波を発生できます。 包装貨物や製品を対象にした振動耐久性評価や、地震対策品の耐震性能評価だけでなく、振動に絡むトラブルの原因究明、対策検討、効果検証などにも活用できます。 東日本大震災以降ニーズが高まっている震度７クラスでの試験が可能です。さらに３軸同時加振が行えるため、実環境で計測されたデータを用いて実際の車両振動や実際の地震と同じ振動を与える再現試験も可能になっています。
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ※公益財団法人JKA平成26年度公設工業試験研究所等における機械等設備拡充事業により導入。 JKA補助事業の自己評価： 評価スコア４ 事前計画の目標値を達成することができた。 |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 液体クロマトグラフ質量分析システム | ||||||||||||
 |
||||||||||||
| 液体クロマトグラフ質量分析システムは、液体クロマトグラフと質量分析装置およびナノイオン源からなる不揮発性有機化合物の総合的解析を可能とする装置群です。 ①未知試料の定性・同定解析、②極微量成分の定量分析など物質の分離、構造解析・同定及び定量分析に加え、またスクリーニング機能による③異物等の表面分析など、異常部位微少領域のピンポイント分析が可能です。 本装置は、製品中や環境中の有害物質管理にとどまらず、製品トラブルの解析（変色、劣化、異物など）、高度なものづくりへの支援などに利用ができます。
|
||||||||||||
| ※公益財団法人JKA平成25年度公設工業試験研究所等における機械等設備拡充事業により導入。 JKA補助事業の自己評価： 評価スコア４ 事前計画の目標値を達成することができた。 |
| 電子線三次元表面形態解析装置 | ||||||||||||
 |
||||||||||||
| 電子線三次元表面形態解析装置は、①材料・製品の表面観察、②表面形状計測、③表面元素分析の３つの機能に対応できる表面の総合的形態解析ができる唯一の装置です。 高精度半導体、超微細配線、超平滑平面体などの微細構造体や高機能性表面の開発など先端技術分野での利用や、めっき製品、電子部品、金型、工具、触媒、高分子フィルム、紙などの基盤技術に係わる製品トラブルの解析（回路異常、腐食、異物など）などに利用できます。
|
||||||||||||
| ※公益財団法人JKA平成24年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業により導入。 JKA補助事業の自己評価： 評価スコア４ 事前計画の目標値を達成することができた。 |
| 複合サイクル試験機 | ||||||||||
 |
||||||||||
| 塩水噴霧環境、湿潤環境あるいは乾燥環境をサイクル的に繰り返し曝露する事により、耐食性を評価する装置です。 主にめっき、アルマイトあるいは塗装等の表面処理を施した金属製品の耐食性の評価を行うものであり、機械・構造部品の安全性・信頼性の維持・改善や腐食トラブルの原因究明あるいは対策のために用いられます。
|
||||||||||
| ※公益財団法人JKA平成23年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業により導入。 JKA補助事業の自己評価： 評価スコア４ 事前計画の目標値を達成することができた。 |
| 高照度キセノン耐候性試験装置 | ||||||||||||||
 |
||||||||||||||
| 太陽光と似た分光分布を持つキセノンランプを光源に用いているため屋外暴露との相関が高く、耐候性試験の主流となっている耐候性試験装置です。2つの試験槽を用いることにより促進性の高い高照度試験を異なる条件で同時に行うことが出来るため、試験に要する時間を大幅に短縮することが出来ます。 プラスチック製品・塗装・繊維製品・機械・構造部品・電子部品など多くの分野で、製品の安全性および信頼性の維持や改善、トラブルの原因究明のために用いられます。
|
||||||||||||||
| ※公益財団法人JKA平成23年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業により導入。 JKA補助事業の自己評価： 評価スコア４ 事前計画の目標値を達成することができた。 |
| メタルハライドランプ式耐候性試験装置 | ||||||||||||||
 |
||||||||||||||
| 強い紫外線を照射出来るメタルハライドランプを用いた促進性に優れた耐候性試験装置です。 屋外暴露1年分の紫外線量を最短48時間で照射可能です。 プラスチック製品・塗装・繊維製品・機械・構造部品・電子部品など多くの分野で、製品の耐久性及び信頼性の維持や改善、トラブルの原因究明のために用いられます。
|
||||||||||||||
| ※公益財団法人JKA平成23年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業により導入。 JKA補助事業の自己評価： 評価スコア４ 事前計画の目標値を達成することができた。 |
| 分光測色計 | ||||||||||||||
 |
||||||||||||||
| 製品の色を測定し、その結果をもとに規格化された基準に基づき色を数値化する装置です。プラスチック製品・塗装・繊維製品・機械・構造部品・電子部品など多くの分野で、製品トラブルの原因究明、安全性および信頼性の維持や改善、品質管理のために用いられます。 またファイバー仕様のため、微小部や複雑な形状をした試料の測色も可能です。
|
||||||||||||||
| ※公益財団法人JKA平成23年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業により導入。 JKA補助事業の自己評価： 評価スコア４ 事前計画の目標値を達成することができた。 |
| 雷サージ試験システム | ||||||||||||||||||||||||||||||||
 |
||||||||||||||||||||||||||||||||
| 誘導雷を模擬した高電圧・大電流のインパルスを機器の電源線や信号線に注入する装置です。 電気・電子機器、メカトロニクス機器を安全で信頼性の高いものにする上で、雷サージ試験は欠かすことができないものとなっています。
|
||||||||||||||||||||||||||||||||
| ※公益財団法人JKA平成23年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業により導入。 JKA補助事業の自己評価： 評価スコア４ 事前計画の目標値を達成することができた。 |
||||||||||||||||||||||||||||||||
| Ｘ線応力測定装置 | ||||||||||||||
 |
||||||||||||||
| Ｘ線を用いて機械・構造部品の残留応力や、残留オーステナイトを非破壊で測定する装置です。 機械・構造部品の安全性・信頼性の維持・改善や破損トラブルの原因究明のために用いられます。
|
||||||||||||||
| ※公益財団法人JKA平成22年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業により導入。 |
| 光電測光式発光分析装置（OES） | ||||||
 |
||||||
| スパーク放電発光分光分析は、試料と対電極の間で放電を行い、放射される光を分光器によりスペクトル線に分け、その強度を測定することにより、元素の定量を行います。鉄鋼や非鉄金属を固体で分析します。 分析装置は鉄鋼用、非鉄用の2台（外観は同じです）あります。
|
||||||
| ※公益財団法人JKA平成21年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業により導入。 |
| 顕微ラマン分光光度計 | ||||||||||
 |
||||||||||
多波長励起光源が備わっていますので、機械・金属材料から有機高分子材料に至るまで、化学構造が測定できます。
|
||||||||||
| ※公益財団法人JKA平成20年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業により導入。 |
| 元素分析付高分解能電界放出型走査電子顕微鏡 | ||||||
 |
||||||
| ・各種材料の形態観察・材質分析や表面異物の元素分析を行うことができます。 ・電子顕微鏡像観察とＸ線分析の測定が簡便かつ短時間で両方測定可能です。 ・サンプル表面のダメージを抑えつつ高分解能での観察・分析を行うことができます。
|
||||||
| ※公益財団法人JKA平成19年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業により導入。 |
| ACサーボ順送プレスシステム | ||||||||||||||||||||||||
 |
||||||||||||||||||||||||
本システムは、採用する加工法に最適化したプレスモーションを実現することのできる高精度成形、難加工材成形や省エネ成形に対応できる加工機器です。
|
||||||||||||||||||||||||
| ※公益財団法人JKA平成18年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業により導入。 | ||||||||||||||||||||||||
| ＩＣＰ－質量分析システム | ||||||||||||
 |
||||||||||||
| 本システムは、高感度かつ適用範囲の広い分析機器であるＩＣＰ－質量分析装置を用い、様々な元素の高感度定量を行うものです。 このシステムにはマイクロ波分解装置も併設されているため、溶液だけでなく金属、プラスチックなど多くの素材中の微量元素定量も行えます。
|
||||||||||||
| ※公益財団法人JKA平成17年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業により導入。 |
| 包装貨物用振動試験機 | ||||||||||||||||||
 |
||||||||||||||||||
本装置の振動波形は、正弦波、ランダム波、ショック波および実測形を制御できるので、振動試験以外にもバンプ試験（繰返し衝撃試験）や加速度値の低い衝撃試験も対応可能で、包装貨物だけでなく、機械金属部品および電気電子部品にもご利用できます。
|
||||||||||||||||||
| ※公益財団法人JKA平成16年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業により導入。 |
| マイクロ波デバイス測定システム | |||||||||||||||||||||||||||
 |
|||||||||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||||||||
| ※公益財団法人JKA平成15年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業により導入。 | |||||||||||||||||||||||||||
| 三次元形状測定装置（三次元座標測定機） | ||||||||
 |
||||||||
非接触・接触の両方式の測定により三次元形状を評価します。
|
||||||||
| ※公益財団法人JKA平成14年度公設工業試験研究所の設備拡充補助事業により導入。 |
メールでお問合せ
メルマガ会員登録
