口2026-0082

発表題目	二次元配列メタマテリアルへの斜入射特性解析
発表者名	伊藤 盛通
発表会名	第36回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
発表日	2026/9/17

概要

FR-4基板の両面配置されたリングから成る共振器を構成要素とした二次元アレイ構造のメタマテリアルを試作し、その斜入射特性を反射・透過係数測定結果から評価した。ピーク周波数のシフトと比帯域幅を組み合わせた指標を設定して反射特性の入射角依存性を評価した結果、TM偏波の特性はTE偏波の特性よりも安定していた。波長に対して非常に薄い媒質のため、解析には厚さゼロと仮定できる表面感受率を導出した。法線方向だけではなく、接線方向における感受率の角度分散を考慮した計算結果を基に、TM偏波における指標の安定性の要因を説明した。実験結果ともよく一致したことから、薄型メタマテリアルの斜め入射特性を解析する上で、表面感受率に基づく手法が有用であることを示された。