| 発表題目 |
計算機シミュレーションによる水トリー発生過程の検討 |
| 発表者名 |
岩田 晋弥 |
| 発表会名 |
令和8年 電気学会 基礎・材料・共通部門大会 |
| 発表日 |
2026/9/5
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概要
水トリー劣化は、架橋ポリエチレンを中心とする高分子絶縁材料に生じる代表的な絶縁劣化現象である。その発生および進展過程において、材料内部の水分やイオン不純物が重要な役割を果たしていると考えられているが、微視的メカニズムについては未解明な点が非常に多い。本研究では、分子動力学計算を活用し、アモルファスポリエチレン中における水分子およびイオン(ナトリウムイオン、硫酸イオン)の動的特性や凝集状態を解析した。特に、外部電場による水分子の配向に着目したところ、異方的なクラスター成長が確認された。また、イオン近傍の水分子の水素結合ネットワークの構造変化や柔軟性を評価した。