口2024-0165

発表題目	ICP発光分析・質量分析の基礎と測定の注意点
発表者名	塚原秀和
発表会名	第37回 分析技術部会大会
発表日	2024/11/21

概要

ICP分析を行う際、精度確保に留意するときには、物理干渉や分光干渉、質量干渉など機器の操作において発生する誤差要因に着目しがちである。しかし、それ以外にも精度に影響する要因としては、装置に持ち込む前の溶液の作成、操作での影響が少なくない。今回はICP発光分析、質量分析装置の基礎的な説明を行い、試料作成、検量線設計や、汚染対策、干渉対策など、微量成分を分析する際に留意すべき点など、精度の高い分析値を確保するための注意点に関して解説する。