口2023-0281

発表題目	ガンマ線誘起陽電子消滅寿命測定による酸化セリウムの格子欠陥評価
発表者名	○道志 智、前田 和紀、他
発表会名	日本化学会第104春季年会(2024)
発表日	2024/3/20

概要

ガンマ線誘起陽電子消滅寿命測定は酸素欠陥のような格子欠陥を、1) 線源成分の影響が無視でき、2) 種々の条件下(温度、ガス雰囲気制御下など)で高感度に検出できる測定法であり、触媒反応中の酸素欠陥の状態を把握する最適な方法である。本研究では、粒子径の異なる、つまり、バルクと表面の原子数割合が異なる酸化セリウムの陽電子消滅寿命測定を行い、各成分を帰属した。また、第一原理計算により、酸化セリウムのバルク、欠陥サイト、および表面における陽電子消滅寿命を求めた。得られた寿命スペクトルを3成分解析した結果、実験値と理論値は良い一致を示した。また、粒子径が小さくなるほど表面で消滅する割合が多くなることがわかった。