口2022-0074

発表題目	破断面ミクロ画像の分類モデルと推論用ソフトウェアの開発
発表者名	○濱田 真行、金岡祐介、喜多俊輔、平田 智丈、他
発表会名	第 17 回フラクトグラフィシンポジウム
発表日	2022/10/13

概要

破断面解析では、破壊様式の判定に役立つ特徴的な破面形態の撮影を目的として、電子顕微鏡による金属破断面のミクロ観察が行われる。本研究では、ディンプル・ストライエーション・粒界破面などの7種類の破面形態を分類できる深層学習モデルの開発に取り組んだ。開発したモデルを用いた推論は、電子顕微鏡を制御するパソコン上で行われることが想定される。そこで、ONNXと呼ばれる様々なフレームワークで利用可能な共通のファイルフォーマットに変換し、Windowsマシンで動作するソフトウェアとして実装し、推論を試みたので報告する。