概要
走査電子顕微鏡(SEM)や透過電子顕微鏡(TEM)は、金属材料を取り扱う研究者にとって、利用する機会が非常に多い装置である。特に、これらに元素分析用のエネルギー分散型X線分光器(EDS)や波長分散型X線分光器(WDS)、あるいは電子線後方散乱回折(EBSD)による結晶方位解析装置を装備した分析系装置は、材料の物性評価や新機能創出には、なくてはならない装置と言っても過言ではない。したがって、研究者にとっては、これらの装置を常時使用できる環境が担保されることが望ましく、それの実現を目指し、ORISTが最近注力しているリモート装置使用に係わる取り組みについて紹介する。
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