ホーム > 利用案内 > 装置使用 > 電子デバイス系センターにおける導入機器・装置の使用等

電子デバイス系センターにおける導入機器・装置の使用等

(注)

【依頼試験について】

通常の試験方法に加えて、前処理や加工などの特別な作業が必要な場合には、その内容に対応した試料調製費を別途加算します。
試験・分析等を依頼される試料は、申込者がご持参ください。

※手数料金額は、消費税等込みの総額表示です。（単位：円）

【装置使用について】

機器・装置の使用にあたっては、その使用技術とともに十分な経験を有する方に限りますので、必ず事前に担当研究員と十分ご相談ください。
機器・装置の使用にあたり、指導が必要と判断される場合には、指導料(30分あたり2,500円、消費税込み)を別途加算します。
使用料は、全日（9：00-17：30）、午前（9：00-12：15）、午後（13：00-17：30）の単位で記載しています。一部、半日使用できないものがあります。
時間単位での使用料の算定は行いません。

※使用料金額は、消費税等込みの総額表示です。（単位：円）

次世代光デバイス評価支援センター

【依頼試験】（再掲）

（単位：円）

可視光域の光源（波長域：360～830 nm）

項目			番号	単位	手数料
全光束測定 (小型積分球使用) 試料：最大長50㎜以下（LEDチップ・モジュール，小型電球類相当）かつ全光束：5,000 ルーメン以下	全光束測定コース＜全光束＋光源色＞		K101	1測定	15,700
	全光束		K102	1測定	9,800
	分光分布		K103	1測定	9,800
	光源色＜分光分布＋色度＋色温度＋演色性評価数＞		K104	1測定	12,600
全光束測定 (大型積分球使用) 試料：最大長1200mm 以下（40W形直管蛍光灯相当）かつ全光束：50,000 ルーメン以下	全光束測定コース＜全光束＋光源色＞		K105	1測定	16,900
	全光束		K106	1測定	10,700
	分光分布		K107	1測定	10,700
	光源色＜分光分布＋色度＋色温度＋演色性評価数＞		K108	1測定	13,600
二次元色彩・輝度分布測定	色彩・輝度分布測定コース＜輝度分布＋色度分布＋色温度分布＞		K109	1測定	15,400
	輝度分布		K110	1測定	8,400
	色度分布		K111	1測定	8,400
	色温度分布		K112	1測定	8,400
配光測定 (小型配光装置使用) 試料サイズ：最大長100 ㎜以下	配光（球帯係数法による全光束測定を含む）		K114	1測定	11,100
	光度		K116	1測定	6,800
	上記2項目への追加	分光分布	K123	1測定	5,700
	上記2項目への追加	色彩＜色度＋色温度＋演色性評価数＞	K118	1測定	5,700
配光測定 (大型配光装置使用) 試料サイズ：最大長100 ㎜をこえ1,500㎜以下	配光（球帯係数法による全光束測定を含む）		K113	1測定	19,400
	光度		K115	1測定	10,300
	上記2項目への追加	分光分布	K124	1測定	5,700
	上記2項目への追加	色彩＜色度＋色温度＋演色性評価数＞	K122	1測定	5,700
輝度測定			K117	1測定	5,700
照度測定			K119	1測定	5,700

紫外光域を含む光源（波長域：220～830 nm）

項目			番号	単位	手数料
全放射束測定 (5.3inch積分球使用) 試料：最大長60mm以下（LEDチップ･モジュール相当）かつ放射束範囲：0.04mW ～0.8W	全放射束測定コース＜全放射束＋分光分布＋光源色＞		K201	1測定	15,800
	全放射束		K202	1測定	9,800
	分光分布		K203	1測定	9,800
	光源色＜分光分布＋色度＋色温度＋演色性評価数＞		K204	1測定	13,000
配光測定 (小型配光装置使用) 試料サイズ :最大長100 mm以下	配光（球帯係数法による全放射束測定を含む）		K205	1測定	11,100
	放射強度		K206	1測定	7,000
	上記2項目への追加	分光分布	K207	1測定	5,900
	上記2項目への追加	色彩＜色度＋色温度＋演色性評価数＞	K208	1測定	5,900

次世代光デバイス評価支援センター

【装置使用】（再掲）

（単位：円）

名称	メーカー名、型式、主な仕様など	番号	全日9:00-17:30	午前9:00-12:15	午後13:00-17:30
照度計	トプコンサービス　IM-5	PE13	3,100	1,300	1,800
分光色彩計	トプコン　SC-777	PB27	10,400	4,400	6,000

電池開発評価センター

【装置使用】（再掲）

（単位：円）

名称	メーカー名、型式、主な仕様など	番号	全日9:00-17:30	午前9:00-12:15	午後13:00-17:30
電極塗工装置	・電極塗工液調整装置／クラボウ／マゼルスター KK-250S ［遊星式、最大処理量：250g］・電極塗工装置／テスター産業／PI-1210 ［研磨ガラス塗工台（幅280×長さ450mm）、有効長：330mm、塗工速度：10～200mm/s、アプリケーター：2種］・ロールプレス機／タクミ技研／SA-602 ［ロールサイズ：Φ100×165mm、荷重： Max38kN、回転速度：0.2～3.5m/min、温度：Max200℃、ロール間隔：0～3mm］・定温乾燥機／アドバンテック／DRA430DA ［温度：40～300℃、内寸：幅460×奥行475× 高さ450mm］	PG01	14,000	5,900	8,100
ラミネートセル作製装置	・打ち抜き機／宝泉／PRESS CUTTER LL型［トムソン刃：セパレータ用、正極用、負極用］・超音波接合機／BRANSON／40MA-XAE- 50 ［周波数：40kHz、出力：800W、ヘッドサイズ： 3mm×5mm、最大加圧力：1000N］・注液機／TOSEI／SV-150 ［最大包装材寸法：横140×縦150mm、接着部温度：180℃、ダイアフラムポンプ］・シール機／富士インパルス／T-130K 及び T-230K ［シール幅：10mm、シール長：120mm（T- 130K）及び220mm（T-230K）］	PG02	8,500	3,600	4,900
コイン電池作製装置	・打ち抜き機／宝泉［打ち抜き用金型：負極用 Φ16.1mm、正極用 Φ15.9mm、セパレータ用 Φ17mm・Φ24mm］・手動かしめ機／宝泉　［CR2032用］・分解機／宝泉　　［CR2032用］	PG03	4,000	1,700	2,300
充放電測定装置	Solartron analytical／1470E Cell test system ［チャンネル数：8ch、最大出力電圧：+10Ｖ～ -3Ｖ、最大出力電流：±4Ａ、サイクリックボルタモグラム］	PG04	5,600	2,400	3,200
	追加（充放電1チャンネル毎）	PG10	2,000	900	1,100
	追加（インピーダンス測定）	PG11	2,500	1,100	1,400
インピーダンス測定装置	Solartron analytical／1470E Cell test system ［周波数範囲：10µHz～1MHz］	PG05	5,600	2,400	3,200
高温伝導度測定システム	東陽テクニカ製／HT-Z-800 ［最高温度：600℃、雰囲気制御型セル、ディスク型試料ホルダー、平板型試料ホルダー］	PG06	5,800	2,500	3,300
真空定温乾燥機	ヤマト科学／角型真空定温乾燥器 DP200 ［温度：40～240℃、内寸：200×250× 200mm、ロータリーポンプ］	PG07	2,700	1,200	1,500
ドライチャンバー	ダイキン工業／HRW-60AR ［内寸：幅2300×奥行900×高さ765mm、露点温度：-60℃以下］	PG08	5,100	2,200	2,900
グローブボックス	M.BRAUN／LABmaster PRO SP ［ボックス内サイズ：1500×1000×高さ 900mm、グローブポート：片面3個（両面計6個）、雰囲気：アルゴン（酸素・水分ともに1ppm以下）］	PG09	12,300	5,200	7,100

（経済産業省　平成24年度補正予算事業「地域新産業創出基盤強化事業」により導入）

注）１．作業内容によってご利用可能な装置類が異なります。
　　２．複数の装置（群）の項目を適用する場合、使用料は合計金額となります。
　　３．多くの方にご利用いただくため、使用日数を制限させていただく場合があります。
　　４．本センターの設備や機器での試料の保管はご遠慮ください。
　　５．表中の金額に部材費（実費）は含んでいません。　

【電池試作にかかる部材】（再掲）

（単位：円）

品名	仕様	番号	単位	使用料
銅箔	18µm厚、200mm幅	PG1A	1m	300
アルミ箔	20µm厚、200mm幅	PG1B	1m	200
負極粉末	球状化黒鉛粉末	PG1C	25g	610
導電助剤	アセチレンブラック、電池グレード	PG1D	25g	1,500
結着剤	PVDF、電池グレード	PG1E	10g	810
溶媒	NMP、電池グレード	PG1F	50g	710
電解液	LiPF61M/EC:DEC1:1	PG2A	20mL	2,000
セパレータ	電池グレード	PG2B	50cm	500
ラミネートフィルム	200mm幅	PG2C	50cm	200
タブ	シーラント付タブアルミ＆銅	PG2D	5組	710
コイン電池セット	CR2032用	PG3A	5個	2,000

注）１．仕様は予告なく変更することがあります。

先進電子材料評価センター

【依頼試験】（再掲）

（単位：円）

項目		番号	単位	手数料
比誘電率・誘電正接（共振器法）		G508	1測定	23,500
	追加	G509	1測定	7,100
	１条件追加	G510	1測定	9,700
比誘電率・誘電正接（Sパラメータ法、導波管サンプルホルダ）		G511	1測定	26,000
	追加	G512	1測定	9,700
	１条件追加	G513	1測定	12,200
比誘電率・誘電正接（Sパラメータ法、フリースペース）		G514	1測定	27,900
	追加	G515	1測定	10,200
	１条件追加	G516	1測定	13,000
仕事関数（ケルビンプローブ法）		G517	1測定	17,300
	追加	G518	1測定	7,600
仕事関数（光電子収量分光法）		G519	1測定	24,900
	追加	G520	1測定	7,700

先進電子材料評価センター

【装置使用】（再掲）

（単位：円）

名称	メーカー名、型式、主な仕様など	番号	全日9:00-17:30	午前9:00-12:15	午後13:00-17:30
触針式微細表面形状測定装置	ブルカー　Dektak XT-A	PE62	13,500	5,700	7,800

以下の先進電子材料評価センター保有装置による支援業務は受託研究でも実施できますので、詳しくは各装置の担当研究員にご相談ください。

名称	メーカー名、型式など
誘電特性評価システム	キーサイト・テクノロジー　N5290A、N1501AE19他 EMラボ　CR-710、-720、-728、-740、-760、-780、WSF-X、-P 　　　　　FS-110（-KCF、-RCF、-UCF、-ECF、-WCF)
仕事関数測定システム	KPテクノロジー　APS02
半導体特性測定装置	FLUXIM　Paios
ホール効果測定装置	東洋テクニカ　ResiTest8310
触針式微細表面形状測定装置	ブルカー　Dektak XT-A